LED Burn-In System
FECBIS-CS
용도 : 비 메모리 제품에 대한 고온 동작 수명 시험 장비. LED 제품 전용 시험 장비이며 Multi Zone으로 구성되어 있어 다양한 시험 조건 시험 진행이 가능 함.
특징 : 기존 사용중인 Chamber에 장착하여 사용 하도록 설계 됨. 기존 System을 활용하므로 높은 활용 가능 함.
Target Device | LED Device |
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Number of Zone | 30 Zones |
Slot of Zone | 1 Slot/3 Zone |
Number of BIB | 10 BIB |
Number of Channel | 24 Channel/BIB |
Test Mode | Constant Current(CC) Mode |
Current Range | 1,000 ㎃/DUT |
Burn in Board Temp. Monitoring | 2 Point/BIB |
Power On/Off | Min 2.5 ㎳ |
Temperature Range | RT to 100 ℃ |
Outside Dimensition | 800(W) X 600(D) X 450(H) mm |
Monitoring | Real time Voltage/Current Monitoring |