Logic Burn-In System
FECBIS-S
비 메모리 제품에 대한 고온 동작 수명 시험 장비. PMIC 제품 전용 시험 장비이며 Multi Zone으로 구성되어 있어 다양한 시험 조건 시험 진행이 가능함.
| Target Device | PMIC Device |
|---|---|
| Burn in Board Size | 405 mm X 430 mm |
| Number of Zone | 8 Zones |
| Slot of Zone | 2 Slot/Zone |
| Number of BIB | 16 BIB |
| Power | 4 Channel Positive 0 ∼ 100 V/3 A 1 Channel Negative 0 ∼ -100 V/3 A |
| Standard waveform | Sine, Square, Triangle |
| Number of Output Channel | 4 Channel |
| Temperature Range | RT to 150 ℃ |
| Outside Dimensition | 2130(W) X 1450(D) X 2100(H) mm |
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