Logic Burn-In System
FECBIS
비 메모리 제품에 대한 고온 동작 수명 시험 장비. 모든 비 메모리 제품 시험이 가능하며 Multi Zone으로 구성되어 있어 다양한 제품을 동시에 시험 진행이 가능 함.
| Target Device | ASIC Device |
|---|---|
| Burn in Board Size | 703 mm X 570 mm |
| Number of Zone | 16 Zones |
| Slot of Zone | 1 Slot/Zone |
| Number of BIB | 16 BIB |
| Number of Channel | All Slot 256 Channel Optional 512 Channel |
| Timing Resolution | 100 MHz |
| Vector Memory Depth | 4 M Optional 8 M, 16M |
| Temperature Range | RT to 150 ℃ |
| Outside Dimensition | 2130(W) X 1450(D) X 2100(H) mm |
| Function Generators (Optional) | |
| Standard waveform | Sine, Square, Triangle |
| Number of Output Channel | 8 Channel |
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